Halfgeleier analise
-
DB-FIB
Diensinleiding Tans word DB-FIB (Dual Beam Focused Ion Beam) wyd toegepas in navorsing en produkinspeksie oor velde soos: Keramiese materiale，Polimere，Metaalmateriale，Biologiese studies，Halfgeleiers，Geologiediensomvang Halfgeleiermateriale, organiese klein-organiese materiale, organiese/organiese materiaal, hibriede materiaal, organiese molekule nie-metaal materiaal Diens agtergrond Met die vinnige vooruitgang van halfgeleier elektronika en geïntegreerde stroombaan t... -
Destruktiewe Fisiese Analise
Die kwaliteit konsekwenthedevan die vervaardigingsprosesinelektroniese komponenteisdie voorvereistevir elektroniese komponente om aan hul gebruik en verwante spesifikasies te voldoen. 'n Groot aantal vervalste en opgeknapte komponente oorstroom die komponentverskaffingsmark, die benaderingom die egtheid van rakkomponente te bepaal is 'n groot probleem wat komponentgebruikers teister.
-
Mislukkingsanalise
Met die verkorting van die R&D-siklus van die onderneming en die groei van die vervaardigingskaal, staar die maatskappy se produkbestuur en produkmededingendheid veelvuldige druk van binnelandse en buitelandse markte in die gesig. Gedurende die hele lewensiklus van die produk word die produkkwaliteit gewaarborg, en die lae mislukkingsyfer of selfs nul Mislukking word 'n belangrike mededingendheid van 'n onderneming, maar dit is ook 'n uitdaging vir ondernemingskwaliteitbeheer.
